當(dāng)前位置：
Inframet動(dòng)態(tài)目標(biāo)模擬器：SIMIT 和SIMAT 區(qū)別及選購(gòu)建議
更新時(shí)間：2025-03-05
點(diǎn)擊次數(shù)：1319
1. 設(shè)計(jì)理念與定位
| 特性 | SIMAT | SIMIT |
|---|---|---|
| 設(shè)計(jì)目標(biāo) | 模塊化實(shí)驗(yàn)平臺(tái) | 全自動(dòng)化 |
| 核心優(yōu)勢(shì) | 手動(dòng)操作靈活，支持硬件級(jí)定制 | 高集成度、自動(dòng)化控制與高精度 |
| 適用對(duì)象 | 科研實(shí)驗(yàn)室、教育機(jī)構(gòu)、預(yù)算有限場(chǎng)景 | 軍事測(cè)試中心、工業(yè)化產(chǎn)線、高精度需求場(chǎng)景 |
2. 技術(shù)特性對(duì)比
| 功能 | SIMAT | SIMIT |
|---|---|---|
| 動(dòng)態(tài)目標(biāo)數(shù)量 | 支持2個(gè)動(dòng)態(tài)目標(biāo)（主+次級(jí)） | 支持更多動(dòng)態(tài)目標(biāo)（多目標(biāo)并行模擬） |
| 控制方式 | 部分依賴手動(dòng)調(diào)節(jié)（如輻射源更換） | 全計(jì)算機(jī)化控制，支持復(fù)雜編程 |
| 輻射校準(zhǔn) | 手動(dòng)調(diào)節(jié)（溫度/衰減器） | 自動(dòng)化校準(zhǔn)，精度更高 |
| 視場(chǎng)范圍 | 窄視場(chǎng)（<8°）結(jié)合轉(zhuǎn)臺(tái)擴(kuò)展至120° | 默認(rèn)寬視場(chǎng)，動(dòng)態(tài)范圍更廣 |
| 光譜兼容性 | 基礎(chǔ)版紅外，需硬件升級(jí)至UV/可見光 | 默認(rèn)多光譜覆蓋，支持更廣波段 |
3. 動(dòng)態(tài)模擬原理差異
SIMAT：
使用兩臺(tái)離軸反射準(zhǔn)直器生成目標(biāo)，通過光束合成器疊加背景。
目標(biāo)運(yùn)動(dòng)依賴機(jī)械調(diào)節(jié)（如光束合成器角度），動(dòng)態(tài)范圍受限。
雙投影系統(tǒng)+機(jī)械控制：
距離模擬：通過調(diào)節(jié)目標(biāo)角尺寸（連續(xù)/步進(jìn)）實(shí)現(xiàn)。
SIMIT：
可能采用動(dòng)態(tài)可編程光源或數(shù)字微鏡陣列（DMD），背景與目標(biāo)統(tǒng)一生成。
目標(biāo)運(yùn)動(dòng)由軟件控制，軌跡精度與靈活性顯著提升。
數(shù)字化投影陣列：
高級(jí)仿真：支持多目標(biāo)交互、復(fù)雜輻射譜變化及實(shí)時(shí)場(chǎng)景切換。
4. 典型應(yīng)用場(chǎng)景
| 場(chǎng)景 | SIMAT | SIMIT |
|---|---|---|
| 科研實(shí)驗(yàn) | ? 需手動(dòng)更換輻射源的非標(biāo)測(cè)試 | ? 自動(dòng)化程度過高，靈活性受限 |
| 多目標(biāo)測(cè)試 | ? 僅支持雙目標(biāo) | ? 多目標(biāo)追蹤與交互仿真 |
| 產(chǎn)線批量測(cè)試 | ? 效率較低 | ? 高速自動(dòng)化驗(yàn)證，適配產(chǎn)線節(jié)奏 |
| 老舊設(shè)備兼容 | ? 模塊化設(shè)計(jì)便于適配非標(biāo)接口 | ? 依賴標(biāo)準(zhǔn)化接口 |
5. 選擇決策指南
選擇SIMAT：
需求：靈活手動(dòng)操作（如測(cè)試新型輻射源）、低成本原型驗(yàn)證、兼容非標(biāo)設(shè)備。
典型場(chǎng)景：大學(xué)實(shí)驗(yàn)室研究誘餌特性、天文目標(biāo)動(dòng)態(tài)模擬教學(xué)演示。
選擇SIMIT：
需求：高精度自動(dòng)化測(cè)試、多目標(biāo)復(fù)雜場(chǎng)景仿真、軍事級(jí)可靠性驗(yàn)證。
典型場(chǎng)景：導(dǎo)引頭全流程性能測(cè)試、衛(wèi)星載荷多目標(biāo)追蹤算法驗(yàn)證。
總結(jié)
SIMAT：模塊化先驅(qū)，以靈活性與低成本為核心，適合探索性實(shí)驗(yàn)與定制化需求，但犧牲了自動(dòng)化效率。
SIMIT：技術(shù)迭代產(chǎn)物，以自動(dòng)化、高精度、多目標(biāo)為優(yōu)勢(shì)，適合工業(yè)化測(cè)試與高復(fù)雜度場(chǎng)景，但初期成本更高。
本質(zhì)差異：
SIMAT是“可拆解的實(shí)驗(yàn)室工具"，適合動(dòng)手調(diào)試與硬件創(chuàng)新；
SIMIT是“精密黑箱系統(tǒng)"，專為高效、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試而生。
根據(jù)測(cè)試頻率、預(yù)算規(guī)模與場(chǎng)景復(fù)雜度權(quán)衡選擇，兩者共同覆蓋從科研到工業(yè)的全鏈條需求。
更多詳情，歡迎聯(lián)系上海明策電子的技術(shù)團(tuán)隊(duì)！
