MRTD（最小可分辨溫差）是一個(gè)主觀參數(shù)（函數(shù)），描述了成像儀-人類系統(tǒng)在不同對比度和不同尺寸的參考目標(biāo)下，分辨目標(biāo)細(xì)節(jié)的能力。具體來說，它是一個(gè)函數(shù)，表示分辨標(biāo)準(zhǔn)4條條紋目標(biāo)（條紋的長寬比為7）與背景之間的最小溫差，在不同空間頻率下觀察者仍然能夠分辨出條紋的溫差?？臻g頻率被理解為4條條紋目標(biāo)中一對條紋的反向角度大小。

MRTD通常通過人工分析圖像中的4條條紋目標(biāo)來測量，該目標(biāo)具有可變的溫差（圖43-44）。觀察者的任務(wù)通常是找到一個(gè)最小的溫差值，使得他在仍能分辨出條紋的情況下，能夠分辨給定空間頻率的目標(biāo)。他應(yīng)該能夠看到所有四條條紋，盡管并不需要一直看到這些條紋。優(yōu)秀的溫差（MRTD值）是通過對一系列溫差值進(jìn)行實(shí)驗(yàn)得出的。該程序同時(shí)對正對比度和負(fù)對比度的4條條紋目標(biāo)進(jìn)行，計(jì)算出平均值。之后，對于其他4條條紋目標(biāo)（空間頻率），會(huì)重復(fù)進(jìn)行這個(gè)過程。建議在5-6個(gè)空間頻率下測量MRTD，以準(zhǔn)確確定MRTD函數(shù)。如果熱成像儀在多個(gè)視場（FOV）下工作，那么每個(gè)視場都需要重復(fù)測試。

通過重復(fù)測量使用不同空間頻率的4條條紋目標(biāo)的MRTD，可以創(chuàng)建類似圖45所示的二維函數(shù)。X軸是測量中使用的4條條紋目標(biāo)的空間頻率。Y軸是分辨4條條紋目標(biāo)所需的最小溫差值。常見的挑戰(zhàn)是準(zhǔn)確測量接近Nyquist頻率的空間頻率下的MRTD（接近圖45中的垂直漸近線），因?yàn)槟繕?biāo)空間頻率的微小變化會(huì)產(chǎn)生顯著不同的MRTD值。這種情況需要擁有非常長的一系列不同空間頻率的4條條紋目標(biāo)，以便能夠準(zhǔn)確測量市場上各種熱成像儀的MRTD。

這主要有三個(gè)原因：

1. 測量概念容易理解，且測試結(jié)果易于直接解釋，

2. MRTD提供了整個(gè)系統(tǒng)（成像儀和人類觀察者）性能的信息，

3. MRTD提供了熱成像儀在面對三大類目標(biāo)（在實(shí)際工作條件下遇到的目標(biāo)）的性能信息：低溫差的大型目標(biāo)、中等溫差的中型目標(biāo)和高溫差的小型目標(biāo)。

因此，MRTD是最常被測量的熱成像儀參數(shù)。

熱像儀MRTD測試系統(tǒng)推薦：

 DT熱像儀測試系統(tǒng)系列是專為在實(shí)驗(yàn)室和倉庫條件下對熱成像儀及其核心組件進(jìn)行全面測試和瞄準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)。

 該系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，能夠根據(jù)不同的測試需求和預(yù)算，配置出不同設(shè)計(jì)下具有不同測試能力的系統(tǒng)，能夠?qū)κ袌錾蠋缀跛蓄愋偷臒岢上駜x進(jìn)行廣泛的測試。

所測試的熱成像儀位于紅外準(zhǔn)直器的輸出端，看到的是由準(zhǔn)直器投影的圖像。測試目標(biāo)與測試熱成像儀之間的光學(xué)距離非常短（大約是準(zhǔn)直器的兩倍焦距）。這樣的距離通常低于典型監(jiān)控?zé)岢上駜x的對焦范圍。然而，由于使用準(zhǔn)直器作為圖像投影器，熱成像儀“看到"的目標(biāo)就像位于一個(gè)非常遠(yuǎn)的地方，即光學(xué)無窮遠(yuǎn)，測試就是模擬這種超長距離對焦。

可測試能力

1 MRTD（最小可分辨溫差）

2 NETD（噪聲等效溫差）

3 MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）

4 FOV（視場）

5 SiTF（信號傳遞函數(shù)）

6 Distortion（畸變）

7 FPN（固定模式噪聲）

8 3D-Noise

9 Bad pixels（像素壞點(diǎn)）

10 Magnification（放大倍數(shù)）

11 Response function（響應(yīng)功能）

12 MDTD（最小可檢測溫差）

13 MTDP（感知最小溫差）

14 AutoMRTD（自動(dòng)最小可分辨溫差）

15 VirtMRTD（虛擬MRTD）

16 NPSD（噪聲功率譜密度）

17 PVF（點(diǎn)可見性系數(shù)）

18 SRF（狹縫響應(yīng)功能）

19 SNR（信噪比）

20 NER（噪聲等效輻射）

21 NEI（噪聲等效輻照度）

22 NEP（噪聲等效功率）

23 D*（歸一化檢測率/比探測度）

24 Non-uniformity（非均勻性）